算起来断更很有段时间了，虽然说本来就是自娱自乐的地方，一直就这么让他长草也不太好，决定从即日起每月对JSSC（Journal of Solid-State Circuits）的论文做一个简单的小结，也算是一个学习的动力了
一般JSSC一月的内容主要是处理器、存储器和高性能数字芯片相关的内容，对我而言，主要还是看看其他sensor的部分可能提到analog模块，另外technology trend 部分也还有些有趣的内容
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关于弱反型与匹配
对于弱反型（weak inversion）或者说是亚阈值区（Sub-threshold）的 MOS 器件的匹配问题，很容易产生的一个想法就是由于电流和阈值的指数关系，器件的 matching (匹配)会变差。实际上，这种想法并不全然正确，这一问题在 ’Analog-Design-Essential‘ 书中亦有分析，这里简单叙述一下：
首先如下面的基本电流镜电路，考虑阈值 Vth 的 mismatch 由经由 MOS 管的跨导 gm 变为 Iout 的 mismatch，同时 uCox/2（也即K‘）和宽长比的 mismatch 直接影响输出电流，可以容易推出其输出电流 Iout 的 mismatch 为：
ΔIout/Iout=ΔVth*(gm/Id)+ΔK‘/K’+Δ(W/L)/(W/L)
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