标签归档:DFT

Design for Testability

Design for Manufacturing

最早接触到 Design for Manufacturing 这个概念是在 smic 的研讨会上,最近又在 techonline 上看到 一篇文章 ,这里把其中的部分内容总结一下:

Design for manufacturing or DFM: 考虑–制造、封装、测试(生产链)下的良率

促使DFM的因素:

1.more complex photolithography operations for deep-submicron designs
集成电路设计进入深亚微米下的越趋复杂的光刻操作

2.higher design complexity
设计复杂度的增大

继续阅读